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11.11.2020

Seminar S8: Oberflächencharakterisierung von Polymerwerkstoffen


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Rasterelektronenmikroskopie (REM) mit Materialanalyse (EDX)


Mit dem Rasterelektronenmikroskop können Oberflächenstrukturen dargestellt werden. Es kann die Faser-Matrix-Haftung bzw. die Partikel-Matrix-Haftung charakterisiert werden. Die Rasterelektronenmikroskopie ist ein wichtiges Werkzeug zur Ermittlung von Bruchflächenmerkmalen (Bruchflächenanalyse, Fraktographie) und in der Schadensanalyse. Durch die Kopplung mit einer Materialanalyse (EDX) ist die Ermittlung anorganischer (Fremd-)Einschlusse möglich.

(in Kooperation mit der Martin-Luther-Universität Halle-Wittenberg bzw. der Hochschule Merseburg)


Probenvorbereitung

  • Probenentnahme aus Bauteilen, Platten, Prüfkörpern
  • Erzeugen von Bruchflächen
  • Entnahme von Defekten aus Schadteilen
  • Besputtern der Oberfläche mit Gold oder Platin

Prüfbedingungen

  • Darstellung von Topographie (SE)
  • Darstellung von Materialkontrast (BSE)

Ansprechpartner

Prof. Dr. Ines Kotter
Telefon: +49 (0)3461 46-2527
ines.kotter@psm-merseburg.de

Quickinfo

Ergebnisse

  • Oberflächenstrukturen
  • Faser-Matrix-Haftung
  • Partikel-Matrix-Haftung
  • Fraktographie
  • Bruchflächenanalyse
  • Materialanalyse
  • EDX
  • Topographie
  • Materialkontrast